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產(chǎn)品中心(xīn)EMC測試(shì)儀器東京電(diàn)子TET日本半導(dǎo)體HBM測試(shì)儀
產(chǎn)品簡介
日本半導(dǎo)體HBM測試(shì)儀本產(chǎn)品可(kě)進行器件級ESD測試(shì) ，包括(kuò)CDM測試(shì) 。可(kě)應用於器件開發評價(jià) 、器件認(rèn)證和進廠測試(shì) 、評價(jià) 、使(shǐ)用環境評價(jià)等各(gè)種(zhǒng)試(shì)驗用途(tú)。
產(chǎn)品分(fèn)類
| 品牌(pái) | TET | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|
日本半導(dǎo)體HBM測試(shì)儀產(chǎn)品規格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/閂鎖測試(shì)機台）●1200 ELC（ESD/閂鎖/CDM 測試(shì)機台）產(chǎn)品用途(tú)1200系列的4種(zhǒng)功能(néng) ：HBM 、MM 、閂鎖和CDM在(zài)一個系統中 ，1350引腳對測試(shì)可(kě)用（使(shǐ)用專用DUT板在(zài)非電(diàn)源引腳和電(diàn)源引腳之間時） 。本產(chǎn)品可(kě)進行器件級ESD測試(shì) ，包括(kuò)CDM測試(shì) 。可(kě)應用於器件開發評價(jià) 、器件認(rèn)證和進廠測試(shì) 、評價(jià)、使(shǐ)用環境評價(jià)等各(gè)種(zhǒng)試(shì)驗用途(tú)。
*1 MM 標準(zhǔn) 400V。可(kě)施加 2KV，但在(zài)高電(diàn)壓(yā)狀態下持(chí)續試(shì)驗會導(dǎo)致繼電(diàn)器劣化(huà)。
*2 需(xū)要示(shì)波(bō)器 、電(diàn)流探頭 、衰減器（20dB） 。關於對應的產(chǎn)品 ，請另外商談。
*3 CDM 波(bō)形保證範圍為±2000V，空(kōng)氣放電(diàn)時受到濕度、接觸部的構(gòu)造(zào)、污(wū)染等影響 ， 波(bō)形有可(kě)能(néng)會有很大變化(huà)。
*4 每個電(diàn)源都具有閉鎖檢測功能(néng)和電(diàn)源過(guò)壓(yā)測試(shì)功能(néng)。
*5 測試(shì)範圍由 Vsupply 而(ér)定(dìng) 。
*6 需(xū)使(shǐ)用熱電(diàn)纜和外部測試(shì)夾具。
*7 該系統使(shǐ)用的組件包括(kuò)水(shuǐ)銀(yín) 。請按照法(fǎ)律處理(lǐ)含有汞的組件。
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