日本TET東京電子交易株式會社 ESD1100系列共分為3個(gè)型號(hào)，分別是：

●1100-ESD（ESD試(shì)驗專用型號(hào)）

●1100-CDM （CDM試(shì)驗專用型號(hào)）

●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試(shì)驗專用型號(hào)）

日本TET半導體靜電測試(shì)儀可廣泛(fàn)應用於器件的開(kāi)發設計評價、認證(zhèng)接收檢查、品保評價 、操作環境評價等各種試(shì)驗用途。

ESD試(shì)驗是測試(shì)靜電放電乾(gàn)擾（ESD脈衝）和器件破損之間(jiān)的關係。ESD乾(gàn)擾有HBM（人體帶電模型）和MM（機械帶電模型）兩種。Model 1100-ESD可以進(jìn)行這兩種乾(gàn)擾的測試(shì)。另外(wài)，還可以通過選件 ，追加想要進(jìn)行的ESD測試(shì) 。可以對64 pin器件進(jìn)行全自動(dòng)的滿(mǎn)足標準的全引腳組合(hé)的測試(shì) 。另外(wài)，帶有簡單的進(jìn)行ESD波形自動(dòng)測試(shì)的軟件 ，準備好(hǎo)示波器、電流探頭 、衰減器後，可以確認滿(mǎn)足標準的波形 ，安心的進(jìn)行ESD試(shì)驗 。

日本TET半導體靜電測試(shì)儀本機台在三軸(zhóu)構造(zào)的機械手上裝配HBM或MM的ESD發生(shēng)模塊（EPG模塊），可進(jìn)行滿(mǎn)足國內外(wài)標準的ESD試(shì)驗 。

CDM試(shì)驗有感應充電法（FI-CDM）和直接充電法（DI-CDM）兩種。兩種的區(qū)別是給器件充電的方法不同，但都是模擬充電好(hǎo)的器件引腳和金(jīn)屬接觸時的乾(gàn)擾 。本試(shì)驗裝置這兩種充電方式都可以進(jìn)行試(shì)驗 。

LUP閂鎖試(shì)驗是測試(shì)由於外(wài)來噪聲（觸發源）引起的器件閂鎖抗擾度
。本裝置裝備了電流脈衝、電源過電壓脈衝作為觸發源 。閂鎖現象通過施加觸發後電源電流的增加來判定(dìng) 。為了獲得穩定(dìng)的試(shì)驗結果(guǒ) ，可能需要提(tí)供上拉/下(xià)拉以穩定(dìng)Inom，本裝備通過專用的夾具板
，用跳線連(lián)接。

*可通過聯繫我們咨(zī)詢或自行根據(fù)希望的用途來選擇型號(hào)*