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產(chǎn)品中心(xīn)EMC測(cè)試儀器東京電子(zǐ)TET日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可(kě)進行器件(jiàn)級(jí)ESD測(cè)試，包括CDM測(cè)試。可(kě)應用於(yú)器件(jiàn)開(kāi)發評價(jià) 、器件(jiàn)認證和進廠測(cè)試 、評價(jià)、使用環境評價(jià)等各種試驗用途。
產(chǎn)品分類(lèi)
| 品牌 | TET | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進口 |
|---|
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格:
1200 C: D-CDM/F-CDM（）●1200 EL（ESD/閂鎖測(cè)試機台）●1200 ELC（ESD/閂鎖/CDM 測(cè)試機台）產(chǎn)品用途1200系列(liè)的4種功能 ：HBM、MM 、閂鎖和CDM在一個系統中 ，1350引腳對(duì)測(cè)試可(kě)用（使用專(zhuān)用DUT板(bǎn)在非電源引腳和電源引腳之間時）。本產(chǎn)品可(kě)進行器件(jiàn)級(jí)ESD測(cè)試 ，包括CDM測(cè)試。可(kě)應用於(yú)器件(jiàn)開(kāi)發評價(jià)、器件(jiàn)認證和進廠測(cè)試、評價(jià) 、使用環境評價(jià)等各種試驗用途 。
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀產(chǎn)品詳(xiáng)情:
*1 MM 標準 400V 。可(kě)施加 2KV，但在高電壓狀態(tài)下持(chí)續試驗會導(dǎo)致繼電器劣化 。
*2 需要(yào)示(shì)波器 、電流(liú)探頭 、衰減器（20dB） 。關於(yú)對(duì)應的產(chǎn)品，請另外商談 。
*3 CDM 波形保證範圍為±2000V，空氣放電時受到濕度、接觸部的構造、污(wū)染等影響 ， 波形有可(kě)能會有很(hěn)大變化 。
*4 每個電源都具有閉鎖檢測(cè)功能和電源過壓測(cè)試功能 。
*5 測(cè)試範圍由 Vsupply 而定。
*6 需使用熱電纜和外部測(cè)試夾具 。
*7 該系統使用的組件(jiàn)包括水(shuǐ)銀。請按照法律處理含有汞的組件(jiàn)。
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