日本電子JEOL肖特基(jī)場發射掃描電鏡IT800產品介紹(shào) ：

一(yī)、日本電子JEOL肖特基(jī)場發射掃描電鏡IT800高分(fèn)辨率成像能力

JSM-IT800採用浸沒式肖特基(jī)Plus場發射電子槍，結合(hé)低像差聚光(guāng)透(tòu)鏡和Neo Engine電子光(guāng)學控制(zhì)系統，實現(xiàn)了納米級分(fèn)辨率。其二(èr)次電子圖(tú)像分(fèn)辨率在15kV加速電壓下可達(dá)0.5nm ，即使在1kV低電壓下仍保持0.7nm的高分(fèn)辨率。這一(yī)特性(xìng)使其在觀察納米材料 、半導(dǎo)體(tǐ)器(qì)件等微觀結構時具有顯著優勢，例(lì)如可清晰顯示小於10nm的催化劑顆粒分(fèn)布。

二(èr) 、靈活模塊化設計

多種物鏡選擇：提供(gōng)五種物鏡模塊，包括通用型混合(hé)透(tòu)鏡（HL） 、高分(fèn)辨率超(chāo)級混合(hé)透(tòu)鏡（SHL/SHLs）以及專為(wéi)半導(dǎo)體(tǐ)設計的半浸沒式物鏡（i/is）
，滿(mǎn)足(zú)從磁性(xìng)材料到絕緣體(tǐ)的多樣化分(fèn)析需求(qiú)。

可擴展探(tàn)測器(qì)系統 ：配備新(xīn)型閃爍體(tǐ)背散射探(tàn)測器(qì)（SBED）和多功能背散射探(tàn)測器(qì)（VBED），SBED在低電壓下仍能捕捉清晰的成分(fèn)對比圖(tú)像，而VBED支持3D形貌與成分(fèn)信息的同步獲取，適用於複雜樣品的多維度(dù)分(fèn)析 。

三 、智能化操(cāo)作與高效分(fèn)析

集成化控制(zhì)平台(tái) ：通過(guò)SEM Center圖(tú)形界面(miàn)無縫整合(hé)能量色散X射線譜儀(yí)（EDS） ，實現(xiàn)實時成分(fèn)分(fèn)析與圖(tú)像顯示的無縫切換 ，提升分(fèn)析效率。

AI輔助功能：引入LIVE-AI濾鏡優化實時圖(tú)像質(zhì)量 ，支持快速聚焦和像散調整；可選軟(ruǎn)件如Smile Navi為(wéi)新(xīn)手提供(gōng)操(cāo)作導(dǎo)航，降低使用門檻。

自動化調節：具備自動合(hé)軸、聚焦 、消像散等功能 ，結合(hé)五軸馬達(dá)驅動樣品台(tái)（支持360°旋轉和傾斜） ，簡化複雜操(cāo)作流(liú)程。

四、廣泛適用性(xìng)與工業兼容性(xìng)

JSM-IT800在納米技術、半導(dǎo)體(tǐ) 、材料科(kē)學 、生(shēng)物醫學等領域(yù)表現(xiàn)zhuoyue 。例(lì)如，其超(chāo)級混合(hé)透(tòu)鏡（SHL）可高效分(fèn)析磁性(xìng)材料 ，無需切換模式 ；半浸沒式物鏡（i/is）則擅長半導(dǎo)體(tǐ)器(qì)件的橫截(jié)面(miàn)故障分(fèn)析 。此外，設備支持大束流(liú)下的高分(fèn)辨成像（如100nA@5kV） ，結合(hé)高速元素面(miàn)分(fèn)析和EBSD（電子背散射衍射）功能 ，滿(mǎn)足(zú)工業質(zhì)檢的快速檢測需求(qiú)。